（一）检测对象与产品分类
工业用擦拭布主要包括聚酯 / 锦纶复合超细纤维布（纤维直径≤1μm）、防静电涂层擦拭布，
广泛应用半导体晶圆、光学镜头、精密仪器的清洁。检测需覆盖材料的洁净性能、物理性能及功能特性。
（二）核心检测项目解析
洁净性能指标
尘埃粒子捕获率（GB/T 38444 附录 B）：对≥0.5μm 粒子捕获率≥99.9%，采用激光尘埃计数器测试擦拭前后的洁净室粒子浓度变化。于离子残留量（SEMI E153）：钠离子≤5ppb，氯离子≤10ppb，确保无腐蚀性残留污染精密元件。
功能性能指标
表面电阻率（GB/T 1410）：防静电型擦拭布表面电阻率 1×10⁶-1×10¹¹Ω/□，采用四探针法检测，防止静电吸附尘埃。
液体吸收速度（GB/T 21655.1）：去离子水吸收时间≤5s/100mm，保障快速清洁能力。
物理性能指标
纤维直径与均匀性（GB/T 35464.3）：平均直径 0.3-0.8μm，变异系数≤10%，影响擦拭细腻度。
断裂强度（GB/T 3923.1）：纵向断裂强度≥80N/5cm，确保擦拭过程中不破损掉屑。
（三）检测方法与技术要点
尘埃粒子捕获率测试需在万级洁净实验室进行，模拟实际擦拭动作；离子残留量采用电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）检测，前处理需严格控制污染。百检合作实验室配备 100 级超净工作台，可提供擦拭布的洁净度分级检测（ISO 14644-1 标准），检测周期较传统方法缩短 25%。
（四）行业应用与质量管控
2023 年半导体行业抽查显示，15% 的擦拭布尘埃捕获率不达标，主要因纤维开纤工艺不足。企业采购时需索取 CNAS 认证实验室出具的粒子捕获率与离子残留检测报告，重点关注高温（60℃）灭菌后的强度保持率（≥90%），确保电子元件生产环境的洁净度合规。
